L-600統計型膜厚計

商品說明

日本KETT L-600統計型膜厚計搭載簡體中文、英文、日文及韓文四種操作語言，可搭配多種電磁式測頭或渦電流式測頭，可以用來測定磁性體或非磁性金屬物上的被膜厚度量測。L-600統計型膜厚計，可針對多樣的素材、多樣的被膜量測，例如：鋅、硬鉻、化學鎳、塗裝、烤漆、電著、陽極處理、皮膜處理、鐵氟龍、砝瑯、達可锈、各種非金屬被膜等進行膜厚檢測。

日本KETT L-600統計型膜厚計的主機區分為標準型Standard及高級型Expert二種，高級型Expert主機具有更大的儲存容量及Bluetooth藍芽傳輸功能。

L-600 Standard 標準版

記憶容量：50,000

資料輸出：USB-C

L-600 Expert 高級版

記憶容量：100,000

資料輸出：USB-C、藍芽Bluetooth

與行動App “LDL Mobile”相容

可供選購的測頭(必須選購)：

磁性金屬(鋼、鐵)上的非磁性被膜	EP-200	曲面薄底材靠近邊緣的區域複雜的形狀 0-1200um
	EP-100	大平面曲面圓管 0-2500um
	EP-110	狹窄的空間標準測頭無法測量的區域 90度測頭 0-2500um
	EP-120	管道內部較高的區域難以測量的區域 90度測頭 0-2500um
非磁性金屬(鋁、銅、不鏽鋼)上的絕緣被膜	HP-100	大平面曲面圓管 0-1200um
非磁性金屬(鋁、銅、不鏽鋼)上的絕緣被膜	HP-110	狹窄的空間標準測頭無法測量的區域 90度測頭 0-1200um

日本KETT 新型式測頭個別具有50組檢量曲線登錄容量，就像同時擁有50台專用膜厚計一樣，使用者可依不同的材質(鋼鐵、鋁合金、銅、不鏽鋼等)及不同的形狀(平面、圓棒、圓弧等)選用專用的膜厚計(專用的測量曲線)。

本體規格：

測定方式：電磁誘導式及渦電流式

測定對象：導磁性金屬上的非磁式被膜及非磁性金屬上的絕緣被膜

測定範圍：電磁誘導式測頭EP-100、EP-110、EP-120：0-2500um

電磁式測頭EP-200、渦電流式測頭HP-100、HP-110：0-1200um

測定精度：50um以下為±1um；50um以上±2%

最小顯示解析：100um以下為0.1um；100um以上為1um

符合規範：

Electromagnetic induction: JIS K5600-1-7, JIS H0401, JIS H8401, JIS H8501, / ISO 2808, ISO 2064, ISO 1460, ISO 2178, ISO 19840 / ASTM B 499, ASTM D 7091, ASTM E 376
Eddy-current: JIS K5600-1-7, JIS H8680-2, JIS H8501 / ISO 2808, ISO 2360, ISO 2064, ISO 19840 /ASTM B 244, ASTM D 7091, ASTM E 376

顯示方式：具背光的LCD數值顯示

記憶體容量：Standard標準型主機50,000點、Expert高級型主機100,000點

檢量曲線登錄容量：每一測頭50條

外部輸出：Standard標準型主機USB-C、Expert高級型主機USB-C、Bluetooth

電源：單3號鹼性電池*4個

消費電力：最大1W

電池使用壽命：70小時

使用環境：0-40℃，85%RH以下 (無結露)

付加機能：素材補正、校正調整、檢量曲線選擇、上下限設定、單位切換、測定模式切換、語言切換、統計計算、測定資料保存、自動關機、背光顯示、日時設定、螢幕顯示內容切換等

尺寸重量：70*155*35mm、0.2kg