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27 January 2026
渦電流膜厚計的測量原理

參考機型:KETT L-600LZ-990PosiTector 6000系列

渦電流式膜厚計用來測量鋁合金、不鏽鋼等非導磁性金屬上的絕緣被膜厚度。利用通有恆定高頻交流電的導線線圈在儀器探頭表面建立交變磁場,當渦電流膜厚計探頭靠近導電表面時,交變磁場會在其表面產生渦流,隨著探頭與導電表面距離(塗層厚度)會影響渦流的大小,因此施加在感應線圈兩端的電壓也會改變,此變化值可被讀取並轉換為薄膜厚度,從而可以測量非磁性金屬上絕緣薄膜的厚度。

渦電流式膜厚計(例如:KETT L-600、LZ-990、PosiTector 6000 N系列)都使用恆壓探頭,以提供不同的操作者可得到一致性的讀值,塗層膜厚值直接顯示在液晶螢幕LCD上,測量數值可選擇存儲、即時分析或輸出列印等。

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